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業務職掌:
Philips TecnaiG2 F20 FEG-TEM儀器操作及維護 Hitachi S-3000N SEM(掃描式電子顯微鏡) FE-SEM(JEOL JSM-6701F)D2 XRD儀器操作與維護離子薄化機(PIPS Model691) 輝光放電分光儀(GDS500A) 3D共軛焦雷射顯微鏡(VK-X200K/X210) 桌上型SEM量測儀(Tabletop Scanning Electron Microscope)
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